產品資料
日本napson光伏非接觸式PN判定裝置
產品名稱: 日本napson光伏非接觸式PN判定裝置
產品型號: PN-50α
產品特點: 日本napson光伏非接觸式PN判定裝置產品特點通過LED光脈沖照射可以立即判斷由于它是非接觸式方法，因此不會損壞樣品。還可以確定表面上有氧化膜的晶片
日本napson光伏非接觸式PN判定裝置 的詳細介紹
日本napson光伏非接觸式PN判定裝置
光伏非接觸式PN判定裝置
產品名稱：PN-50α
產品圖片（可根據客戶要求進行各種定制）
產品特點
- 通過LED光脈沖照射可以立即判斷
- 由于它是非接觸式方法，因此不會損壞樣品。
- 還可以確定表面上有氧化膜的晶片
測量規格
測量目標
與半導體/太陽能電池相關的材料（硅，多晶硅，SiC等）
測量尺寸
支持2英寸或更大的錠塊
測量范圍
可由PN確定的樣品電阻范圍：0.1至1,000Ω·cm
產品特點
- 通過LED光脈沖照射可以立即判斷
- 由于它是非接觸式方法，因此不會損壞樣品。
- 還可以確定表面上有氧化膜的晶片
測量規格
測量目標
與半導體/太陽能電池相關的材料（硅，多晶硅，SiC等）
測量尺寸
支持2英寸或更大的錠塊
測量范圍
可由PN確定的樣品電阻范圍：0.1至1,000Ω·cm
產品特點
- 通過LED光脈沖照射可以立即判斷
- 由于它是非接觸式方法，因此不會損壞樣品。
- 還可以確定表面上有氧化膜的晶片
測量規格
測量目標
與半導體/太陽能電池相關的材料（硅，多晶硅，SiC等）
測量尺寸
支持2英寸或更大的錠塊
測量范圍
可由PN確定的樣品電阻范圍：0.1至1,000Ω·cm
產品特點
- 通過LED光脈沖照射可以立即判斷
- 由于它是非接觸式方法，因此不會損壞樣品。
- 還可以確定表面上有氧化膜的晶片
測量規格
測量目標
與半導體/太陽能電池相關的材料（硅，多晶硅，SiC等）
測量尺寸
支持2英寸或更大的錠塊
測量范圍
可由PN確定的樣品電阻范圍：0.1至1,000Ω·cm
日本napson光伏非接觸式PN判定裝置
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