產(chǎn)品資料
潔凈室樣品霧度檢測(cè)臺(tái)式鹵素?zé)艄庠丛O(shè)備
產(chǎn)品名稱: 潔凈室樣品霧度檢測(cè)臺(tái)式鹵素?zé)艄庠丛O(shè)備
產(chǎn)品型號(hào): YP-150ID
產(chǎn)品特點(diǎn): 潔凈室樣品霧度檢測(cè)臺(tái)式鹵素?zé)艄庠丛O(shè)備日本山田光學(xué) YP-150ID 是一款高亮度鹵素光源設(shè)備，主要用于半導(dǎo)體晶圓、液晶基板等表面缺陷的宏觀檢查。以下是其核心特點(diǎn)和技術(shù)參數(shù)：主要特點(diǎn)：超高亮度：樣品表面照度可達(dá) 400,000 Lx 以上，能清晰檢測(cè)微小劃痕、異物、拋光不均等缺陷 。冷鏡技術(shù)：采用冷鏡減少熱影響，熱效應(yīng)僅為傳統(tǒng)鋁鏡的 1/3，有效保護(hù)樣品和設(shè)備 。色溫高：鹵素?zé)羯珳剡_(dá) 3,
潔凈室樣品霧度檢測(cè)臺(tái)式鹵素?zé)艄庠丛O(shè)備 的詳細(xì)介紹
潔凈室樣品霧度檢測(cè)臺(tái)式鹵素?zé)艄庠丛O(shè)備
潔凈室樣品霧度檢測(cè)臺(tái)式鹵素?zé)艄庠丛O(shè)備
日本山田光學(xué) YP-150ID 是一款高亮度鹵素光源設(shè)備，主要用于半導(dǎo)體晶圓、液晶基板等表面缺陷的宏觀檢查。以下是其核心特點(diǎn)和技術(shù)參數(shù)：
主要特點(diǎn)：
- 超高亮度：樣品表面照度可達(dá) 400,000 Lx 以上，能清晰檢測(cè)微小劃痕、異物、拋光不均等缺陷 。
- 冷鏡技術(shù)：采用冷鏡減少熱影響，熱效應(yīng)僅為傳統(tǒng)鋁鏡的 1/3，有效保護(hù)樣品和設(shè)備。
- 色溫高：鹵素?zé)羯珳剡_(dá) 3,400K，照明穩(wěn)定、銳利，適合高精度檢測(cè)。
- 兩段式切換：支持一鍵切換高照度與低照度觀察模式，適應(yīng)不同檢測(cè)需求 。
技術(shù)參數(shù)（YP-150ID）：
| 項(xiàng)目 | 參數(shù)值 |
|---|---|
| 照射直徑 | φ30 mm |
| 照度 | ≥400,000 Lx |
| 光束距離 | 140 mm |
| 燈泡型號(hào) | JCR15V150W（牛尾） |
| 燈泡壽命 | 35–50 小時(shí) |
| 色溫 | 3,400 K |
| 冷卻方式 | 強(qiáng)制風(fēng)扇冷卻 |
| 尺寸（燈屋部分） | 100×245×116 mm |
| 重量（燈屋部分） | 約 1.7 kg |
| 電源 | AC 100V，50/60Hz |
| 功耗 | 約 200W |
應(yīng)用場(chǎng)景：
- 半導(dǎo)體晶圓表面缺陷檢測(cè)（如劃痕、異物、霧度等）；
- 液晶基板、玻璃等材料的表面質(zhì)量檢查；
- 適用于 6 英寸及以下尺寸樣品的檢查 。
YP-150ID 是精密制造行業(yè)中用于高亮度照明檢測(cè)的理想選擇，尤其適合對(duì)微小缺陷有高靈敏度要求的場(chǎng)合。
日本山田光學(xué) YP-150ID 是一款高亮度鹵素光源設(shè)備，主要用于半導(dǎo)體晶圓、液晶基板等表面缺陷的宏觀檢查。以下是其核心特點(diǎn)和技術(shù)參數(shù)：
主要特點(diǎn)：
- 超高亮度：樣品表面照度可達(dá) 400,000 Lx 以上，能清晰檢測(cè)微小劃痕、異物、拋光不均等缺陷 。
- 冷鏡技術(shù)：采用冷鏡減少熱影響，熱效應(yīng)僅為傳統(tǒng)鋁鏡的 1/3，有效保護(hù)樣品和設(shè)備。
- 色溫高：鹵素?zé)羯珳剡_(dá) 3,400K，照明穩(wěn)定、銳利，適合高精度檢測(cè)。
- 兩段式切換：支持一鍵切換高照度與低照度觀察模式，適應(yīng)不同檢測(cè)需求 。
技術(shù)參數(shù)（YP-150ID）：
| 項(xiàng)目 | 參數(shù)值 |
|---|---|
| 照射直徑 | φ30 mm |
| 照度 | ≥400,000 Lx |
| 光束距離 | 140 mm |
| 燈泡型號(hào) | JCR15V150W（牛尾） |
| 燈泡壽命 | 35–50 小時(shí) |
| 色溫 | 3,400 K |
| 冷卻方式 | 強(qiáng)制風(fēng)扇冷卻 |
| 尺寸（燈屋部分） | 100×245×116 mm |
| 重量（燈屋部分） | 約 1.7 kg |
| 電源 | AC 100V，50/60Hz |
| 功耗 | 約 200W |
應(yīng)用場(chǎng)景：
- 半導(dǎo)體晶圓表面缺陷檢測(cè)（如劃痕、異物、霧度等）；
- 液晶基板、玻璃等材料的表面質(zhì)量檢查；
- 適用于 6 英寸及以下尺寸樣品的檢查 。
YP-150ID 是精密制造行業(yè)中用于高亮度照明檢測(cè)的理想選擇，尤其適合對(duì)微小缺陷有高靈敏度要求的場(chǎng)合。
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